MiniTest 4100涂層測(cè)厚儀為多功能高精度的涂鍍層測(cè)厚儀,MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
• 鋼鐵基體上的非磁性覆層 • 有色金屬上的絕緣覆層 • 絕緣基體上的有色金屬覆層 所有型號(hào)均可配所有探頭; 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī); 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀功能的參數(shù)對(duì)比:
型號(hào) |
1100 |
2100 |
3100 |
4100 |
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量 |
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) |
1 |
1 |
10 |
99 |
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值) |
- |
1 |
10 |
99 |
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) |
- |
1 |
500 |
500 |
數(shù)據(jù)總量 |
1 |
10000 |
10000 |
10000 |
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 |
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar |
- |
√ |
√ |
√ |
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar |
- |
- |
√ |
√ |
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk |
- |
- |
√ |
√ |
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) |
- |
- |
- |
√ |
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 |
- |
- |
√ |
√ |
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 |
- |
√ |
√ |
√ |
其他功能 |
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) |
- |
√ |
√ |
√ |
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn) |
√ |
√ |
√ |
√ |
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset) |
- |
- |
√ |
√ |
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 |
- |
√ |
√ |
√ |
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 |
√ |
√ |
√ |
√ |
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
設(shè)置極限值 |
- |
- |
√ |
√ |
公英制轉(zhuǎn)換 |
√ |
√ |
√ |
√ |
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別最大最小值 |
- |
- |
√ |
√ |
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) |
- |
- |
√ |
√ |
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送 |
√ |
√ |
√ |
√ |
組內(nèi)單值延遲顯示 |
- |
√ |
√ |
√ |
連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值 |
√ |
√ |
√ |
√ |
MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示) 所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 |
量程 |
低端 分辨率 |
誤差 |
最小曲率 半徑(凸/凹) |
最小測(cè)量 區(qū)域直徑 |
最小基 體厚度 |
探頭尺寸 |
磁 感 應(yīng) 法 |
F05 |
0-500μm |
0.1μm |
±(1%±0.7μm) |
1/5mm |
3mm |
0.2mm |
φ15x62mm |
F1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
F1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/6mm |
5mm |
0.5mm |
φ8x8x170mm |
F3 |
0-3000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
0.5mm |
φ15x62mm |
F10 |
0-10mm |
5μm |
±(1%±10μm) |
5/16mm |
20mm |
1mm |
φ25x46mm |
F20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±10μm) |
10/30mm |
40mm |
2mm |
φ40x66mm |
F50 |
0-50mm |
10μm |
±(3%±50μm) |
50/200mm |
300mm |
2mm |
φ45x70mm |
兩 用 |
FN1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm N50μm |
φ15x62mm |
FN1.6P |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
30mm |
F0.5mm N50μm |
φ21x89mm |
FN2 |
0-2000μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
5mm |
F0.5mm N50μm |
φ15x62mm |
電 渦 流 法 |
N02 |
0-200μm |
0.1μm |
±(1%±0.5μm) |
1/10mm |
2mm |
50μm |
φ16x70mm |
N.08Cr |
0-80μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
2.5mm |
2mm |
100μm |
φ15x62mm |
N1.6 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
1.5/10mm |
2mm |
50μm |
φ15x62mm |
N1.6/90 |
0-1600μm |
0.1μm |
±(1%±1μm) |
平面/10mm |
5mm |
50μm |
φ13x13x170mm |
N10 |
0-10mm |
10μm |
±(1%±25μm) |
25/100mm |
50mm |
50μm |
φ60x50mm |
N20 |
0-20mm |
10μm |
±(1%±50μm) |
25/100mm |
70mm |
50μm |
φ65x75mm |
N100 |
0-100mm |
100μm |
±(1%±0.3mm) |
100mm/平面 |
200mm |
50μm |
φ126x155mm |
CN02 |
10-200μm |
0.2μm |
±(1%±1μm) |
平面 |
7mm |
無限制 |
φ17x80mm |
注: |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。 N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 | MiniTest 1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀探頭圖示
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FN1.6 0~1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 兩用測(cè)頭, 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
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F05 0~500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等 量程低端分辨宰很高(0.1μm)
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|
F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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F3 0~3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭 可用于較厚的覆層
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F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭 尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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F10 0~10mm,φ20mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
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F20 0~20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等
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F50 0~50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
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N02 0~200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
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N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層 尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量 量程低端分辨率很高(0.1μm)
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N10 0~10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
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N20 0~20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
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N100 0~100mm,200mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
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CN02 10~200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板 | |